Course 2 begins with the definitions of resistivity and sheet resistance of semiconductors and metals and emphasizes the importance of working with the correct units for each. We see how to calculate the sheet resistance of a thin conducting film once we know its resistivity. A method to determine the contact resistance using the transfer length method is described, along with the definition of the specific contact resistivity. Current-voltage (IV) measurements of p-n junction diodes are used to extract key device parameters such as the ideality factor and series resistance. The course project explores how process monitor blocks are used to maintain manufacturing integrity.
Electrical Characterization: Diodes
Electrical Characterization: Diodes
Dieser Kurs ist Teil von Spezialisierung „Semiconductor Characterization“
Dozent: Trevor Thornton
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Stufe Mittel
Empfohlene Erfahrung
4 Stunden zu vervollständigen
Was Sie lernen werden
Define resistance, resistivity, and sheet resistance and their associated units.
Describe how to perform four-point probe current-voltage measurements.
Explain the use of the transfer length method.
Kompetenzen, die Sie erwerben
- Kategorie: Semiconductors
- Kategorie: Systems Of Measurement
- Kategorie: Analytical Testing
- Kategorie: Manufacturing Processes
- Kategorie: Laboratory Equipment
- Kategorie: Engineering, Scientific, and Technical Instruments
- Kategorie: Laboratory Testing
- Kategorie: Mathematical Modeling
- Kategorie: Production Process
- Kategorie: Test Equipment
- Kategorie: Process Control
- Kategorie: Electrical Engineering
- Kategorie: Materials science
- Kategorie: Electronic Components
- Kategorie: Engineering Calculations
- Kategorie: Electronics
- Kategorie: Applied Mathematics
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6 Aufgaben
Unterrichtet in Englisch
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